高频介质损耗测试系统由BH916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。 参数一览表 BH916测试装置 GDAT高频Q表 平板电容极片 Φ50mm 可选频率范围20KHz-60MHz、 间距可调范围15mm 频率指示误差3×10-5±1个字 夹具插头间距25mm±0.01mm 主电容调节范围30-500 测微杆分辨率0.001mm 主调电容误差1%或1pF 夹具损耗角正切值4×10-4 （1MHz) Q测试范围2～1023 GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。