高频介质损耗测试系统由BH916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。 1、《BH916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司最新研制的更新换代产品，精密的加工设计、LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。 附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表 BH916测试装置 GDAT高频Q表 平板电容极片 Φ50mm/Φ38mm可选 频率范围 20KHz-60MHz/200KHz-160MHz 间距可调范围 15mm 频率指示误差 3×10-5±1个字 夹具插头间距 25mm±0.01mm 主电容调节范围 30-500/18-220pF 测微杆分辨率 0.001mm 主调电容误差 1%或1pF 夹具损耗角正切值 ≦4×10-4 （1MHz) Q测试范围 2～1023